Микроанализ и растровая электронная микроскопия.
Код товара: 64031
Доступность: Нет в наличии
Артикул: 11186306
- 700.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Перевод с французского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
408 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее.
Формат
увеличенный
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Книга
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Перевод с французского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
408 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее.
Формат
увеличенный
Похожие товары
Турбулентность.
В книге рассмотрено состояние проблемы турбулентных сдвиговых течений, изложены основные результаты ..
Автор: Брэдшоу П., Себеси Т., Фернгольц Г. И др.
Год: 1980
660.00 р.
Лазеры на окиси углерода.
Изложены физико-химические процессы в активной среде газоразрядных лазеров, излучающих на колебатель..
Автор: Алейников В. С., Масычев В. И.
Год: 1990
660.00 р.
Метод последовательных интервалов в теплометрии нестационарных процессов.
В первом разделе книги изложены теория метода последовательных интервалов и техника эксперимента. Вт..
Автор: Шумаков Н. В.
Год: 1979
540.00 р.
Теоретические основы измерения температур.
В книге рассматриваются основы измерения нестационарных температур жидкостей и газов при одновременн..
Автор: Ярышев Н. А.
Год: 1967
480.00 р.