Микроанализ и растровая электронная микроскопия.
Код товара: 64031
Доступность: Нет в наличии
Артикул: 11186306
- 700.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Перевод с французского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
408 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее.
Формат
увеличенный
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Книга
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Перевод с французского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
408 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее.
Формат
увеличенный
Похожие товары
Турбулентность.
В книге рассмотрено состояние проблемы турбулентных сдвиговых течений, изложены основные результаты ..
Автор: Брэдшоу П., Себеси Т., Фернгольц Г. И др.
Год: 1980
660.00 р.
Краткий справочник по физике.
Справочник составлен в соответствии с программой по физике для средних специальных учебных заведений..
Автор: Енохович А. С.
Год: 1976
240.00 р.
Лазеры на окиси углерода.
Изложены физико-химические процессы в активной среде газоразрядных лазеров, излучающих на колебатель..
Автор: Алейников В. С., Масычев В. И.
Год: 1990
660.00 р.
Применение теории групп в квантовой механике.
Книга знакомит читателя с основами теории конечных и непрерывных групп и приложениями теории предста..
Автор: Петрашень М. И., Трифонов Е. Д.
Год: 1967
300.00 р.