Структурная рефрактометрия.
Код товара: 63377
Доступность: На складе
Артикул: 11185595
- 180.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Бацанов С. С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый переплет,
Состояние
Хорошее. Штампы.
Формат
обычный
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве и др. Тираж 7000 экз.
Книга
Автор
Бацанов С. С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый переплет,
Состояние
Хорошее. Штампы.
Формат
обычный
Похожие товары
Лиганд-лигандное взаимодействие и устойчивость разнолигандных комплексов
Установлены закономерности образования различных типов лиганд-лигандных ассоциатов и соответствующих..
Автор: Лукачина В.В.
Год: 1988
660.00 р.
Криометрия
Изложены теоретические основы криометрии и области ее применения при низких и высоких температурах. ..
Автор: Сумарокова Т.Н.
Год: 1989
600.00 р.
Электроотрицательность элементов и химическая связь
Тираж 5 000 экз...
Автор: Бацанов С.С.
Год: 1962
300.00 р.
Структурная рефрактометрия.
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кри..
Автор: Бацанов С. С.
Год: 1976
180.00 р.