Микроанализ и растровая электронная микроскопия.
Код товара: 66896
Доступность: На складе
Артикул: 11189365
- 820.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Пер. с франц. Под ред И.Б. Боровского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
392 с.
Переплет
твердый
Состояние
Очень хорошее.
Формат
увеличенный формат.
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Книга
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Пер. с франц. Под ред И.Б. Боровского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
392 с.
Переплет
твердый
Состояние
Очень хорошее.
Формат
увеличенный формат.
Похожие товары
Методы физических измерений. Лабораторный практикум по физике.
В учебном пособии рассмотрены основы метрологии как науки об измерениях, методах и средствах обеспеч..
Автор: -
Год: 1975
460.00 р.
Теоретическая механика во втузах.
Книга содержит статьи по философским проблемам теоретической механики и истории ее развития, по орга..
Автор: -
Год: 1975
340.00 р.
Флуктации в автоколебательных системах.
В книге подробно и систематически излагается теория флуктуации в автоколебательных системах. Основно..
Автор: Малахов А. Н.
Год: 1967
750.00 р.
Микроанализ и растровая электронная микроскопия.
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов мик..
Автор: -
Год: 1985
820.00 р.