Микроанализ и растровая электронная микроскопия.
Код товара: 66896
Доступность: На складе
Артикул: 11189365
- 820.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Пер. с франц. Под ред И.Б. Боровского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
392 с.
Переплет
твердый
Состояние
Очень хорошее.
Формат
увеличенный формат.
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Книга
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Пер. с франц. Под ред И.Б. Боровского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
392 с.
Переплет
твердый
Состояние
Очень хорошее.
Формат
увеличенный формат.
Похожие товары
Теплофизические свойства материалов.
Основные теплофизические параметры и их размерности./ Теплофизические параметры воздуха и газов, сос..
Автор: Чиркин В. С.
Год: 1959
460.00 р.
Эволюция физики.
`Эволюция физики` - необычная книга. Книга, которая, по словам авторов, была написана для читателя, ..
Автор: Эйнштейн Альберт. Инфельд Леопольд
Год: 2018
340.00 р.
Взаимодействие жидких кристаллов с поверхностью.
В книге описаны физические явления, возникающие на границе жидкие кристаллы (ЖК) - твердое тело, инд..
Автор: Томилин М.Г.
Год: 2001
690.00 р.
Лазеры и термоядерная проблема.
В последнее время большое внимание уделяется применению лазеров для создания и нагрева плазмы, разра..
Автор: -
Год: 1973
460.00 р.