Микроанализ и растровая электронная микроскопия.
Код товара: 66896
Доступность: Нет в наличии
Артикул: 11189365
- 820.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Пер. с франц. Под ред И.Б. Боровского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
392 с.
Переплет
твердый
Состояние
Очень хорошее.
Формат
увеличенный формат.
Изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже-спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Книга
Автор
-
Год
1985
Город издания
Москва
Издание
Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. Пер. с франц. Под ред И.Б. Боровского.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
392 с.
Переплет
твердый
Состояние
Очень хорошее.
Формат
увеличенный формат.
Похожие товары
Эволюция физики.
`Эволюция физики` - необычная книга. Книга, которая, по словам авторов, была написана для читателя, ..
Автор: Эйнштейн Альберт. Инфельд Леопольд
Год: 2018
340.00 р.
Лазеры и термоядерная проблема.
В последнее время большое внимание уделяется применению лазеров для создания и нагрева плазмы, разра..
Автор: -
Год: 1973
460.00 р.
Зонная структура полупроводников.
Излагаются исследования зонных структур и динамики носителей заряда в полупроводниках. Рассматривает..
Автор: Цидильковский И.
Год: 1978
510.00 р.
Вероятности оптических переходов двухатомных молекул.
В монографии представлено современное состояние экспериментальных и теоретических исследований по ве..
Автор: Кузнецова Л. А., Кузьменко Н, Е. и др.
Год: 1980
410.00 р.