Прямые методы исследования дефектов в кристаллах
Код товара: 49087
Доступность: На складе
Артикул: 11170538
- 360.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1965
Город издания
Москва
Издание
Перевод с английского
Издательство
Мир
Количество страниц
352 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
увеличенный
Книга представляет собой тематический сборник работ ведущих зарубежных исследователей, посвященный выявлению дефектов в кристаллах методами трансмиссионной электронной микроскопии и рентгеновской дифракционной топографии. Эти наиболее универсальные и объективные методы исследования дефектов находят все более широкое применение в научных и промышленных лабораториях нашей страны, занятых вопросами физики и химии твердого тела. В конце книги большое количество ч/б фотографий на отдельных листах из мелованной бумаги.
Книга
Автор
-
Год
1965
Город издания
Москва
Издание
Перевод с английского
Издательство
Мир
Количество страниц
352 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
увеличенный
Похожие товары
Вопросы теории плазмы
В восьмом выпуске серии сборников `Вопросы теории плазмы` представлены четыре статьи, в которых расс..
Автор: -
Год: 1974
360.00 р.
Асимптотические свойства решений неавтономных обыкновенных дифференциальных уравнений
Посвящена исследованию поведения решений неавтономных обыкновенных диф.уравнений в окрестности беско..
Автор: Кигурадзе И.Т.,Чантурия Т.А.
Год: 1990
360.00 р.
Лазерная фотоионизационная спектроскопия
Дано систематическое изложение принципов лазерной фотоионизационной спектроскопии, обладающей ультра..
Автор: Летохов В.С.
Год: 1987
1 100.00 р.
1965,