Прямые методы исследования дефектов в кристаллах
Код товара: 49087
Доступность: На складе
Артикул: 11170538
- 360.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
-
Год
1965
Город издания
Москва
Издание
Перевод с английского
Издательство
Мир
Количество страниц
352 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
увеличенный
Книга представляет собой тематический сборник работ ведущих зарубежных исследователей, посвященный выявлению дефектов в кристаллах методами трансмиссионной электронной микроскопии и рентгеновской дифракционной топографии. Эти наиболее универсальные и объективные методы исследования дефектов находят все более широкое применение в научных и промышленных лабораториях нашей страны, занятых вопросами физики и химии твердого тела. В конце книги большое количество ч/б фотографий на отдельных листах из мелованной бумаги.
Книга
Автор
-
Год
1965
Город издания
Москва
Издание
Перевод с английского
Издательство
Мир
Количество страниц
352 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
увеличенный
Похожие товары
Теплофизические свойства веществ и материалов. Физические константы и свойства веществ. Выпуск 4
Фреоны..
Автор: -
Год: 1971
360.00 р.
Теплофизические свойства веществ и материалов. Физические константы и свойства веществ. Выпуск 7
0..
Автор: -
Год: 1973
240.00 р.
Волоконно-оптические датчики: физические основы, вопросы расчета и применения
Рассмотрены физические основы волоконно-оптических датчиков (ВОД), принцип действия которых базирует..
Автор: Бусурин В.И., Носов Ю.Р.
Год: 1990
360.00 р.
Прямые методы исследования дефектов в кристаллах
Книга представляет собой тематический сборник работ ведущих зарубежных исследователей, посвященный в..
Автор: -
Год: 1965
360.00 р.
1965,