Прямые методы исследования дефектов в кристаллах

Name: Прямые методы исследования дефектов в кристаллах
SKU: 11170538
Price: 360 RUB
Availability: InStock

Код товара: 49087

Доступность: Нет в наличии

Артикул: 11170538

360.00 р.
Кол-во

Краткие характеристики

Автор -

Год 1965

Город издания Москва

Издание Перевод с английского

Издательство Мир

Количество страниц 352 с.

Переплет твердый

Состояние Хорошее

Формат увеличенный

Все характеристики

0 отзывов0

Доставка по всей России

Предоставляем фотографии перед отправкой

Книга представляет собой тематический сборник работ ведущих зарубежных исследователей, посвященный выявлению дефектов в кристаллах методами трансмиссионной электронной микроскопии и рентгеновской дифракционной топографии. Эти наиболее универсальные и объективные методы исследования дефектов находят все более широкое применение в научных и промышленных лабораториях нашей страны, занятых вопросами физики и химии твердого тела. В конце книги большое количество ч/б фотографий на отдельных листах из мелованной бумаги.