Структурная рефрактометрия
Код товара: 35021
Доступность: На складе
Артикул: 11156175
- 180.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Штампы
Формат
обычный
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве и др. Тираж 7000 экз.
Книга
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Штампы
Формат
обычный
Похожие товары
Склеивание древесины
В книге излагается теория склеивания древесины и влияние толщины клеевого шва на прочность склеивани..
Автор: Бердинских И.П.
Год: 1965
660.00 р.
Фотометрический анализ. Общие сведения и аппаратура
В монографии подробно изложены физические основы фотометрического анализа, рассмотрена классификация..
Автор: Бабко А. К., Пилипенко А. Т.
Год: 1968
360.00 р.
Фотометрический анализ. Методы определения неметаллов
В монографии подробно изложены методы фотометрического определения азота, бора, кремния, фосфора, мы..
Автор: Бабко А.К., Пилипенко А.Т.
Год: 1974
360.00 р.
Структурная рефрактометрия
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кри..
Автор: Бацанов С.С.
Год: 1976
180.00 р.