Структурная рефрактометрия
Код товара: 35021
Доступность: На складе
Артикул: 11156175
- 180.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Штампы
Формат
обычный
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве и др. Тираж 7000 экз.
Книга
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Штампы
Формат
обычный
Похожие товары
Курс качественного химического полумикроанализа
Рассмотрены основы теории, частные реакции (в т.ч. некоторые капельные и микрокристаллоскопические),..
Автор: Алексеев В.Н.
Год: 1973
240.00 р.
Сборник задач по прикладной электрохимии
Настоящий сборник задач содержит примеры и задачи по всем основным разделам курса прикладной электро..
Автор: Флеров Б.Н.
Год: 1967
180.00 р.
Качественный и количественный ультрамикрохимический анализ
Книга посвящена ультрамикрохимическому анализу - сравнительно новому методу в аналитической химии, к..
Автор: Алимарин И.П., Петрикова М.Н.
Год: 1974
360.00 р.
Количественный анализ
В книге изложены теоретические основы и практические методы количественного анализа, описаны приемы ..
Автор: Бабко А. К., Пятницкий И. В.
Год: 1968
360.00 р.