Структурная рефрактометрия
Код товара: 52923
Доступность: На складе
Артикул: 11174488
- 120.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Пометки в тексте
Формат
обычный
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве и др. Тираж 7 000 экз.
Книга
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Пометки в тексте
Формат
обычный
Похожие товары
Математическое моделирование физико-химические свойства вещества
Сборник посвящен современным методам определения физико-химических свойств веществ (в первую очередь..
Автор: -
Год: 1989
660.00 р.
Химические реакции в полярографии
Рассмотрены физико-химические и аналитические аспекты полярографического изучения химических реакций..
Автор: Турьян Я. И.
Год: 1980
480.00 р.
Теоретические основы электросталеплавильных процессов
Изложены физико-химические основы процессов, протекающих в элекросталеплавильных печах. Рассмотрены ..
Автор: Григорян В. А., Белянчиков Л. Н., Стомахин А. Я.
Год: 1979
660.00 р.
Структурная рефрактометрия
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кри..
Автор: Бацанов С.С.
Год: 1976
120.00 р.