Структурная рефрактометрия
Код товара: 52923
Доступность: На складе
Артикул: 11174488
- 120.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Пометки в тексте
Формат
обычный
В книге излагаются рефрактометрические методы изучения реальной, атомной и электронной структуры кристаллических веществ. Рассмотрена зависимость оптических свойств кристаллов от симметрии решетки и расположения структурных единиц в кристаллическом пространстве и др. Тираж 7 000 экз.
Книга
Автор
Бацанов С.С.
Год
1976
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов химических специальностей университетов. Изд. 2-е, перераб. и доп.
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
304 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Пометки в тексте
Формат
обычный
Похожие товары
Физико-химические методы анализа
В учебнике изложены теоретические основы и практические приемы физико-химических методов анализа. По..
Автор: Ляликов Ю.С.
Год: 1964
300.00 р.
Метод молекулярных орбит и реакционная способность органических молекул
Монография посвящена применению методов квантовой химии для количественной оценки реакционной способ..
Автор: Базилевский М. В.
Год: 1969
240.00 р.
Технология производства химических источников тока
В сборнике представлены материалы по химическим источникам тока, отражающие современное состояние те..
Автор: -
Год: 1985
480.00 р.
Карбанионы в органическом синтезе
В книге на высоком научном уровне в лаконичной форме освещены вопросы образования, устойчивости и ре..
Автор: Айрис Д. К.
Год: 1969
360.00 р.