Испытание и исследование полупроводниковых приборов
Код товара: 12698
Доступность: На складе
Артикул: 11133379
- 710.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Аронов В.Л.,Федотов Я.А.
Год
1975
Город издания
Москва
Издание
-
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
325 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Штампы
Формат
обычный
В книге изложены основные принципы и методы измерения параметров полупроводниковых приборов, дана оценка погрешностей измерения параметров, описаны методы измерения статистических параметров, параметров двухполюсника и четырехполюсника с помощью малого сигнала, импульсных параметров, шумовых и тепловых параметров, параметров высокочастотных полупроводниковых приборов и др., приведены особенности конструирования измерительного и испытательного оборудования.
Книга
Автор
Аронов В.Л.,Федотов Я.А.
Год
1975
Город издания
Москва
Издание
-
Издательство
Высшая школа
Количество страниц
325 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее. Штампы
Формат
обычный
Похожие товары
Применение прецизионных аналоговых микросхем
Рассматриваются схемотехника прецизионных аналоговых микросхем и их применение в радиоэлектронной ап..
Автор: Алексенко А.Г., Коломбет Е.А., Стародуб Г.И.
Год: 1985
150.00 р.
Проектирование кулачковых механизмов цифровыми вычислительными машинами
В книге изложены методы проектирования плоских кулачковых механизмов с помощью цифровых вычислительн..
Автор: Воскресенский М.И,
Год: 1967
510.00 р.
Приборы для определения качества лакокрасочных покрытий
Тираж 3800 экземпляров...
Автор: -
Год: 1967
150.00 р.
Диэлектрические методы исследования влажных грунтов
Тираж 1500 экземпляров...
Автор: Черняк Г.Я.
Год: 1964
580.00 р.
1975, Аронов В.Л., Федотов Я.А.