Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем

Код товара: 36614
Доступность: На складе
Артикул: 11157792

  • 180.00 р.


Краткие характеристики
Автор Чернышев А.А.
Год 1988
Город издания Москва
Издание -
Издательство Радио и связь
Количество страниц 256 с.
Переплет твердый
Состояние Хорошее. Штампы
Формат увеличенный
Все характеристики


В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежности. Подробно рассмотрены дефекты,возникающие в исходных материалах,и механизмах отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Изложены методы обеспечения их надежной работы в различной радиоэлектронной аппаратуре.

Книга

Автор Чернышев А.А.
Год 1988
Город издания Москва
Издание -
Издательство Радио и связь
Количество страниц 256 с.
Переплет твердый
Состояние Хорошее. Штампы
Формат увеличенный
Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

1988, Чернышев А.А.