Полупроводниковые сверхвысокочастотные диоды.

Код товара: 4652

Доступность: На складе

Цена в бонусных баллах: 1

Артикул: 11125937

260.00 р.
Кол-во

Краткие характеристики

Автор Гусятинер М. С., Горбачев А. И.

Год 1983

Город издания Москва

Издание -

Издательство Радио и связь.

Количество страниц 224 с.

Переплет Твердый

Состояние Хорошее. Штампы.

Формат увеличенный

Все характеристики

0 отзывов0

Доставка по всей России

Предоставляем фотографии перед отправкой

Рассмотрены принцип действия, конструкция, технология изготовления, системы электрических параметров, методы их измерения и некоторые вопросы применения полупроводниковых СВЧ диодов всех классификационных групп: детекторных, смесительных, параметрических, умножительных, настроечных, управляющих и генераторных.

Книга

Автор Гусятинер М. С., Горбачев А. И.

Год 1983

Город издания Москва

Издание -

Издательство Радио и связь.

Количество страниц 224 с.

Переплет Твердый

Состояние Хорошее. Штампы.

Формат увеличенный

Ваше имя:

Ваш отзыв

Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!

Рейтинг

Captcha

Введите код

Похожие товары

Интегральная электроника в измерительных устройствах.

Интегральная электроника в измерительных устройствах.

Рассматриваются серийные микросхемы в электронных функциональных узлах и устройствах, особенности оп..

Автор: Гутников В.С. Год: 1988

110.00 р.

Интегральная электроника в измерительных устройствах.

Интегральная электроника в измерительных устройствах.

Книга посвящена применению серийных аналоговых и логических ИС для построения типовых функциональных..

Автор: Гутников В.С. Год: 1980

110.00 р.

Быстродействующий тиристорный электропривод с питанием от высокочастотного источника.

Быстродействующий тиристорный электропривод с питанием от высокочастотного источника.

Рассмотрены основные особенности и принципы построения быстродействующих тиристорных электроприводов..

Автор: Демидов С.В., Полищук Б.Б. Год: 1977

230.00 р.

Измерение параметров цифровых интегральных микросхем.

Измерение параметров цифровых интегральных микросхем.

Обобщен опыт разработки методов и средств измерения и контроля параметров цифровых интегральных микр..

Автор: Эйдукас Д.Ю., Орлов Б.В., Попель Л.М., и др. Год: 1982

110.00 р.

1983, Гусятинер М. С., Горбачев А. И.