Кристаллография ,рентгенография и электронная микроскопия
Код товара: 61228
Доступность: Нет в наличии
Артикул: 11183283
- 800.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Уманский Я.С., и др.
Год
1982
Город издания
Москва
Издание
-
Издательство
Металлургия
Количество страниц
632 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
обычный
Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов.
Книга
Автор
Уманский Я.С., и др.
Год
1982
Город издания
Москва
Издание
-
Издательство
Металлургия
Количество страниц
632 с.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
обычный
Похожие товары
Диаграммы состояний двойных и тройных систем
В книге рассмотрены основные типы диаграмм состояний двойных и тройных систем, процессы кристаллизац..
Автор: Захаров А.М.
Год: 1964
1 100.00 р.
Структура и свойства металлов и сплавов. Справочник
Приведены механические свойства чистых металлов и сплавов в широком диапазоне температур. Представле..
Автор: Тихонов Л В., Кононенко В.А. и др.
Год: 1986
1 100.00 р.
Структура и свойства металлов и сплавов. Диффузия в металлах и сплавах
В справочнике даны краткие теоретические сведения и экспериментальные данные о диффузии в металлах и..
Автор: Париков Л.Н Исайчев В.И
Год: 1987
1 100.00 р.
Инструкция по комплексному исследованию газовых и газоконденсатных скважин
Настоящая инструкция составлена на ВНИИГАЗ на основе инструкции 1961 г. и работ, проведенных за посл..
Автор: -
Год: 1971
660.00 р.