Кристаллография ,рентгенография и электронная микроскопия

Код товара: 61228
Доступность: Нет в наличии
Артикул: 11183283

  • 800.00 р.


Краткие характеристики
Автор Уманский Я.С., и др.
Год 1982
Город издания Москва
Издание -
Издательство Металлургия
Количество страниц 632 с.
Переплет твердый
Состояние Хорошее
Формат обычный
Все характеристики


Приведены необходимые для применения дифракционных методов сведения по кристаллографии. Рассмотрены теоретические основы и практическое использование дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов для изучения структуры кристаллов и металлических материалов.

Книга

Автор Уманский Я.С., и др.
Год 1982
Город издания Москва
Издание -
Издательство Металлургия
Количество страниц 632 с.
Переплет твердый
Состояние Хорошее
Формат обычный
Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

1982, Уманский Я.С., и др.