Рентгенография металлов и полупроводников

Код товара: 60026
Доступность: На складе
Артикул: 11182053

  • 600.00 р.


Краткие характеристики
Автор Уманский Я.С.
Год 1969
Город издания Москва
Издание Учебное пособие для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений.
Издательство Металлургия
Количество страниц 496 с., илл.
Переплет твердый
Состояние Хорошее
Формат увеличенный
Все характеристики


Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской спектроскопии, рентгеновской и гамма-дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма-лучей. Тираж 10500 экз.

Книга

Автор Уманский Я.С.
Год 1969
Город издания Москва
Издание Учебное пособие для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений.
Издательство Металлургия
Количество страниц 496 с., илл.
Переплет твердый
Состояние Хорошее
Формат увеличенный
Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

1969, Уманский Я.С.