Рентгенография металлов и полупроводников
Код товара: 60026
Доступность: На складе
Артикул: 11182053
- 600.00 р.
-
Краткие характеристики
Автор
Уманский Я.С.
Год
1969
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
496 с., илл.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
увеличенный
Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской спектроскопии, рентгеновской и гамма-дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма-лучей. Тираж 10500 экз.
Книга
Автор
Уманский Я.С.
Год
1969
Город издания
Москва
Издание
Учебное пособие для студентов металлургических специальностей высших учебных заведений.
Издательство
Металлургия
Количество страниц
496 с., илл.
Переплет
твердый
Состояние
Хорошее
Формат
увеличенный
Похожие товары
Образование экзогенных месторождений урана и методы их изучения
Приводится характеристика природных процессов, Обусловливающих образование основных типов экзогенных..
Автор: Данчев В. И., Стрелянов Н, П., Шиловский П. П.
Год: 1966
880.00 р.
Дипольное индуктивное профилирование с амплитудно-фазовыми измерениями при поисках и разведке сульфидных руд
В книге рассматривается один из основных методов низкочастотной индуктивной электроразведки с амплит..
Автор: Захаров В.Х.
Год: 1967
480.00 р.
Фотоэлектронные приборы автоматического контроля размеров проката
Тираж 3 900 экз...
Автор: Зарезанков Г.Х.
Год: 1962
360.00 р.
Рентгенография металлов и полупроводников
Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем и..
Автор: Уманский Я.С.
Год: 1969
600.00 р.